1. Oberflächenabdruck einer metallischen Probe für die elektronenmikroskopische Untersuchung im Durchstrahlungsmodus (TEM).
Die TEM-Untersuchung erfordert durchstrahlbare Präparate. Daher müssen metallische Proben auf circa 20 nm abgedünnt oder von kontrastierten Metallschliffen dünne Oberflächenabdrücke hergestellt werden. Geeignet sind beispielsweise organische Filmüberzüge (Kollodium in Essigamylester, Formvar in Dioxan, Polystyren in Ethylbromid) sowie dünne, aufgedampfte Kohlenstoff- oder Metallschichten.
Für die Untersuchung metallischer Proben am Rasterelektronenmikroskop (REM) sind hingegen keine Probeabdrücke erforderlich, hier können kontrastierte Schliffproben direkt untersucht werden.
2. Metallographisches Verfahren zum Sichtbarmachen von Seigerungen oder Einschlüssen im makroskopischen Schliff.
Der Abdruck wird durch Kontakt eines speziell präparierten Fotopapiers mit der fein geschliffenen Probenoberfläche hergestellt. Das Fotopapier färbt sich durch chemische Reaktionen mit den zu identifizierenden Gefügebestandteilen lokal an und lässt somit Rückschlüsse auf die Verteilung der Gefügebestandteile in der Schlifffläche zu, (Baumann-Abdruck, Phosphidabdruck).
3. Oberflächenabdruck eines ambulant präparierten Bauteilbereiches zur nachfolgenden lichtmikroskopischen Gefügeuntersuchung im Labor, Anwendung in der Bauteilprüfung.
4. Oberflächenabdruck einer Bruchfläche für die fraktographische Untersuchung in der Schadensanalyse.